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SI1211主要特點:
● ±2%的 5V 輸出電壓
● 專利的電流控制方式,提升效率,提高帶載能力
● 寬輸入電壓范圍:80~305VAC
● 無需功率電感
● 無需輸入高壓電容
● 快速動態(tài)響應
● 完整的輸出短路、過載及欠壓保護,內(nèi)置過熱保護
● 封裝類型 SOP-8
SI1211應用電路:

SI1211 內(nèi)阻框圖:

SI1211功能描述:
啟動:SI1211 采用專利的電流控制方式對 VDD 電容充電,確保芯片在極短時間內(nèi)完成啟動。芯片開始正常工作后,在 AC 充電窗口內(nèi)控制內(nèi)部功率 MOSFET 開啟/關(guān)斷,實現(xiàn)對 VDD充電儲能。
AC 泄放電:芯片 Drain 端對地存在寄生電容,導致 Drain 端電壓可能過高,芯片因檢測不到 AC 充電窗口電壓而無法開啟內(nèi)部功率 MOSFET。 因此 SI1211 內(nèi)部集成 AC 泄放電路確保每個 AC 周期都能檢測到真實的 Drain 端電壓。該泄放電路具備專利的自適應 Drain 端電壓的功能,從而顯著降低芯片損耗,提高芯片帶載能力。該泄放電流也支持對 VDD 的充電。當 VDD 處于 OVP 狀態(tài)時,該泄放電流可自主流向芯片地防止 VDD 過沖。
充電控制邏輯:得益于 AC 泄放電路,芯片可以檢測到真實的 Drain 端電壓從而確定 AC 充電窗口。當芯片在 AC 充電窗口內(nèi)檢測到 VDD 電壓低于 VDD_ovp_hys 時開啟內(nèi)部功率 MOSFET對 VDD 進行充電。當檢測到 VDD 電壓高于 VDD_ovp 時關(guān)閉內(nèi)部功率 MOSFET。在 AC充電窗口以外,芯片保持內(nèi)部功率 MOSFET 關(guān)閉。
輸出電流限制:SI1211 集成有輸出電流限制電路。該電路檢測 LDO 的輸出電流并直接限制 LDO 的最大電流能力。為避免短路或過載發(fā)生時 LDO 輸出電流過大導致芯片損壞, 典型的輸出電流限制值設(shè)置為 80mA。當發(fā)生短路或者過載時,該電路限制最大輸出電流,同時隨輸出電壓跌落觸發(fā)輸出欠壓保護。
過載保護(OLP):隨負載加重輸出電壓降低,系統(tǒng)觸發(fā)輸出欠壓保護。
輸出欠壓保護(UVP):當輸出功率大于 SI1211 所能提供的最大功率時,輸出電壓隨之跌落。當輸出電壓跌落值超過其額定電壓的 20%,觸發(fā)輸出欠壓保護,LDO 關(guān)閉并等待 640mS 后重啟。
VDD 過壓保護:在 AC 充電窗口內(nèi),芯片檢測到 VDD 電壓高于 VDD_on 時,內(nèi)部邏輯關(guān)閉功率 MOSFET。當芯片檢測到 VDD 電壓高于 VDD_ovp 時,內(nèi)部邏輯強力快速關(guān)閉功率 MOSFET。
內(nèi)置過溫保護(OTP):當芯片溫度超過 160℃,芯片觸發(fā)過溫保護,關(guān)閉內(nèi)部功率 MOSFET 和 LDO 輸出。當芯片溫度低于 140℃,芯片進入自恢復重啟過程。
自恢復重啟:在觸發(fā)各種保護(如過載保護和過溫保護)時,芯片會進入自恢復重啟過程,計時 640ms后,芯片內(nèi)部信號清零并重新啟動。此時如果保護狀態(tài)依然存在,則芯片繼續(xù)重復上述自恢復重啟動作。
